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全自动X光沉降粒度分析仪SediGraph III PLUS
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SediGraph®Ⅲ Plus全自动X光沉降粒度分析仪 |
SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。
久经考验的技术和可靠性
在过去的四十多年中,美国麦克仪器公司的SediGraph是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室,SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法,颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律,通过测量粒子在液体中的沉降速率,得出粒子粒径大小,粒径分析范围为0.1~300μm。
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智能设计特色
SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易,日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品,在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。
• 简化泵系统,确保快速分析和易于维护
• 降低噪声,提供更加安静的工作环境
• 维护提醒装置,根据总测试量,提示用户进行定期维护
• 电脑控制混合室温度,提高测试可重复性
• Windows操作软件,以太网连接,可进行点击式选择菜单,联网工作,打印机选择,剪切和粘贴等操作
• 多功能和交互式报告系统,能够提供多种类型的报告,例如颗粒沉降速度和粒度(以Phi为单位)
多项功能
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相关配件
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