TriStar II Plus系列高性能多通道全自动比表面与孔隙度分析仪 - 美国麦克仪器—比表面仪/物理吸附/化学吸附/压汞仪/粒度/孔隙度/真密度/包裹密度专业提供商

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TriStar II Plus系列高性能多通道全自动比表面与孔隙度分析仪

高性能多通道全自动比表面与孔隙度分析仪TriStar II Plus系列

TriStar II Plus系列硬件优势和软件特点

· 独特的耐腐蚀不锈钢歧管设计，可用于高精度的气体管理

· 长效杜瓦瓶设计，提供高达40h的连续温度控制

· 可选氪气选配，用于极低的比表面测试

· 直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据

· 用户自定义报告选项允许直接建模

· 强大的Python编程语言，允许用户开发扩展TriStar II Plus系列软件标准报告库

· 创新的仪器监控界面实时显示仪器性能指标和维护信息

· 能够在碳微孔分析中同时应用CO₂和N₂吸附等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径分布

数据处理优势

· MicroActive交互式软件，可直接处理吸附数据，用户可通过简单的移动计算条，可得到新的结构信息。一键式访问重要的参数，让用户专注于结果，而不是参数

· 交互式数据处理模式，最大限度地减少使用对话框和达到指定计算参数的路径。用户能准确和有效地确定材料的比表面积和孔隙度

· 可与压汞数据进行叠加（最多25个）

· 可通过图形界面在BET，t-Plot，Langmuir，DFT等模型中选择数据范围

· 报告编辑选项，允许用户自定义多达五份报告，可在屏幕上预览。每份报表都有总结、表格和图形信息

强大的软件功能，数据处理特性和仪器监控功能

用于TriStar II Plus系列的MicroActive软件

直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式评估等温线数据，并减少获取表面积和孔隙度结果所需的时间，不需要生成报告便可查看结果。用户可以很容易的产生并调整BET比表面积变换图等计算结果；可方便快速的通过计算条选择数据点，计算所得到的数据结果可及时更新，并可在计算窗口内进一步细化使用的数据范围。

气体吸附与汞侵入叠加能力

TriStar II Plus系列的MicroActive软件允许用户将压汞法得到的孔隙分布与气体吸附等温线得到的孔径分布图叠加。这种新的功能使得用户在一个软件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。

Dual DFT

这种先进的NLDFT方法允许用户用两个等温线确定样品的孔径分布。在这个例子中，二氧化碳在273K吸附等温线（红色）和氮在77K吸附等温线（绿色）用于计算一个单一的孔径分布。用户不必剪切粘贴二氧化碳和氮气吸附数据，而可以使用两个等温线获得一个单一的孔径分布。

您只需点击一下，TriStar II Plus系列就能提供一套强大的信息，使仪器既能保持在最佳工作状态，又能显示实时分析视图。

样品制备设备

麦克仪器样品制备装置可为比表面和孔隙度分析制备样品。它使用流动气体或者抽真空并加热达到去除污染物的目的，例如样品表面或者孔隙中的水蒸汽和吸附气体。

比表面积和孔体积分析产生的数据质量在很大程度上取决于样品表面的清洁度。麦克仪器公司的样品制备装置可使用氦气、氮气、氩气和其他非腐蚀性气体。

FlowPrep™060通过对样品加热和惰性流动气体从样品表面和孔隙中去除吸附的污染物。FlowPrep拥有六个脱气站，可选择适用于样品材料以及应用的温度、气体和流量。针阀设计使气体流动缓慢，防止样品被吹走。

VacPrep™ 061提供两种方式除污染物。除了流动气体法外，它可以通过加热和真空法制备样品。VacPrep拥有六个脱气站，每个站都可选真空制备或流动气体制备样品。针阀设计使气体流动缓慢，防止样品被吹走。

智能的VacPrep™067是一种先进的六站系统利用加热抽真空法来制备样品。每个站可以独立操作，而不会影响其他正在处理的样品。当样品完成所有脱气步骤后，脱气将自动终止。