在过去的四十多年中,Micromeritics 的 SediGraph 是全球众多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境中还是在实验室里,SediGraph 凭借其卓越的性能,提供可靠精确的测量结果。该仪器采用 X 光沉降法测量粒度分布,通过检测样品对 X 射线的吸收直接测量颗粒质量。SediGraph 根据斯托克斯定律,通过测量颗粒在已知性质液体中的沉降速率,能够得出粒径范围在 0.1μm – 300μm 间样品颗粒的等效球径。
新一代的 SediGraph III Plus 粒度分析仪结合成熟及改进的分析技术,能够提供具备更高重复性和精确度的颗粒粒径信息,并且进一步加快了测试速度,在几分钟内即可完成测试。
SediGraph III Plus 基于直接质量浓度检测来测定粒度分布和统计量(如 D10、D50 和 D90)。基本和高级报告均可一键生成。SediGraph III Plus 可与可选的 MasterTech 自动进样器联用,以连续监测生产过程,并将数据推送至网络或云端以便远程访问。
能够确保对样品中的所有颗粒进行分析,包括小于 0.1μm 的部分
能够与其他粒径测量方法获得的数据合并,数据报告范围扩展至 125,000μm (125mm),在地质学方面具有很好的应用
自下而上地扫描沉降池,能够准确获取快速沉降的颗粒总数,同时尽可能缩短细颗粒分离所需的时间
能够提高样品分析通量,并且减少人为操作步骤,以降低由人为操作造成的测量误差
确保在整个分析过程中液体的性质保持恒定,获取精确的分析结果
跟踪过程性能,便于立即对波动变化做出响应
SediGraph III Plus 具备功能丰富、易于使用的用户界面,基于 Windows 程序,操作简单便利,具备点击式菜单,可定制带有实验室图标的报告,可编辑图形,剪切或粘贴图表,数据导出等功能。自定义方案能够帮助操作者规划、启动和控制分析,能够消除操作人员技能水平对分析结果所带来的影响,确保后续分析都以相同的方法进行。用户能够收集、整理、归档和简化原始数据,存储标准的样品信息和分析条件,便于后期应用。完成的报告能够显示在屏幕、纸质打印,或以各种格式传送到存储设备。
SediGraph III Plus 能够自动提供 0.1μm – 300μm 范围内的详细粒度分析报告,还可将其他粒度分析仪上 300μm – 125,000μm 范围的数据与之结合,使有效粒径分析范围扩展为 0.1μm – 125,000μm。
除表格数据外,还提供多种分析图,包括:
通过软件可叠加多个结果图,便于比较不同样品或同一样品的不同类型图,助力用户将分析结果与标准结果对比,且图表坐标可缩放以细致检查图形数据。表格和图示 X 轴选择中均可添加以 Phi 为单位的粒径(Φ = -log2 (mm 单位的颗粒直径)),表格还可将列设置为沉降速度(cm/s),X 轴能以颗粒粒径或沉降速率进行缩放。
MasterTec 052 自动进样器可确保每次都以完全相同的方式制备和分析样品。其设计旨在提高分析通量、结果重复性和重现性,同时减少人员操作带来的误差。可对多达 18 个样品进行自动排序连续分析,包括进入分析系统前的自动搅拌和超声,完全无需人员介入,还可通过 SediGraph 操作软件操控,样品分散信息储存在样品文件中以备参考。
MasterTech 配备强大的超声分散探针,专用于样品再分散,探针强度可调节,驱动电流自调谐以保持高效稳定的声波能量,前面板数字显示可观察是否达到所需,重复测量时保证每次功率一致。加上其占用空间极小,成为 SediGraph III Plus 非常实用的分析附件。
颗粒的粒度范围和质量分布...
+通过控制粒度分布,能够在...
+颗粒粒径会影响土壤的保水...
+化妆品的外观、使用和包装...
+仅粒径一项就会影响颜料的...
+粒径直接影响对结构敏感催...
+水泥的粒径会影响着成品混...
+这些材料的活性取决于暴露...
+无论磨料颗粒或粉末是用于...
+颗粒粒径范围 | 0.1μm – 300μm 当量球径 |
接触液体材质 | 不锈钢、特氟龙浸渍阳极氧化铝、镀镍铝、尼龙、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯和 Pharmed 管、碳化钨、超白钢、氟化橡胶、橡胶、环氧树脂 |
样品量 | 50mL 分散的样品 – 无需精确的浓度控制 |
分散剂 | 与样品池材料兼容,且不吸收 X 光的液体(如:水、乙二醇、矿物油、SediSperse® 和乙醇等) |
电源要求 | 85 – 264 VAC, 47/63 Hz, 450 VA |
温度 | 运行环境温度 10°C – 40°C,储存或运输温度范围 -10 – 55°C |
湿度 | 20% 至 80%(无冷凝) |
物理参数 | 高度:52 厘米(20.5 英寸) |
所提供的规格在发布时从现有文件中摘录有效。这些规格可能会更改,恕不另行通知,仅供一般参考。
索取报价或咨询专家了解更多信息
与产品新闻、软件更新和最新科学资源保持联系
版权所有 © 2025 Micromeritics Instrument Corporation
沪ICP备11041398号